Àç·á°øÇÐ ¼Ö·ç¼Ç ºÐ¾ß ±Û·Î¹ú ±â¾÷ ¾îÇöóÀÌµå ¸ÓƼ¾î¸®¾óÁî°¡ °íÀ¯ÀÇ ÀüÀÚºö(eBeam) °èÃø ½Ã½ºÅÛÀ» °ø°³Çß´Ù. ¾îÇöóÀÌµå ‘PROVision 3E (ÇÁ·ÎºñÀü 3E) ½Ã½ºÅÛ’Àº ºü¸¥ À̹Ì¡ ½ºÇǵ带 È°¿ëÇÑ ¿þÀÌÆÛ ·¹º§ÀÇ ´ë±Ô¸ð ½Ç ÆÐÅÏ µð¹ÙÀ̽º(on-device & across-wafer) °èÃø ¹× ·¹À̾î Åõ°ú À̹Ì¡(through-layer) ÃøÁ¤À» ±â¹ÝÀ¸·Î ÆÐÅÍ´× Á¦¾î¸¦ À§ÇÑ Ç÷¹À̺ÏÀ» Áö¿øÇÑ´Ù.
÷´Ü ĨÀº Çѹø¿¡ ÇϳªÀÇ ·¹À̾ ¸¸µé°í ¿©·¯ ·¹À̾ ÀûÃþ ÇØ°¡¸ç »ý¼ºµÈ´Ù. ¼ö½Ê¾ï °³¿¡ À̸£´Â °¢ ÆÐÅÏ ´ÜÀ§°¡ ÃÖÀûÀÇ Àü±â Ư¼ºÀ» °®Ãá Á¤»óÀû Æ®·£Áö½ºÅÍ¿Í ÀÎÅÍÄ¿³ØÆ®·Î »ý»êµÇ±â À§Çؼ´Â ÆÐÅÍ´× ¹× Á¤·ÄÀÌ ¿Ïº®ÇÏ°Ô ÀÌ·ïÁ®¾ß ÇÑ´Ù. ÇöÀç ¹ÝµµÃ¼ ¾÷°è´Â ´Ü¼ø 2D ¼³°è¿¡¼ ¸ÖƼ ÆÐÅÍ´×°ú 3D ¼³°è·Î ÀüȯµÇ´Â Ãß¼¼´Ù. µû¶ó¼ °¢°¢ÀÇ ÇÙ½É ·¹À̾ ¿Ïº®ÇÏ°Ô °¡°øÇÏ°í, ÃÖ»óÀÇ PPACt(Àü·Â∙¼º´É∙Å©±â∙ºñ¿ë∙Ãâ½Ã¼Ò¿ä±â°£) ±¸ÇöÀ» À§Çؼ´Â °èÃø ºÐ¾ßÀÇ Çõ½ÅÀÌ ¿ä±¸µÈ´Ù.
ÀüÅëÀûÀÎ ÆÐÅÍ´× Á¦¾î Ç÷¹À̺Ï
ÀüÅëÀûÀÎ ÆÐÅÍ´× Á¦¾î´Â ´ÙÀÌ(die) »çÀÌ °ø°£¿¡ °¡À̵带 ¸¶Å©¸¦ ÆÐÅÍ´×ÇÏ°í, ´ÙÀÌ ºÐ¸® °úÁ¤¿¡¼ ¿þÀÌÆ۷κÎÅÍ Á¦°ÅµÇ´Â ‘ÇÁ·Ï½Ã Ÿ±ê’À» È°¿ëÇØ ´ÙÀÌ ÆÐÅÏ Á¤·ÄÀ» Áö¿øÇÏ´Â ‘±¤ÇÐÀû ¿À¹ö·¹ÀÌ Åø’ ¹æ½ÄÀ¸·Î ¼öÇàµÈ´Ù. ±¤ÇÐÀû ÇÁ·Ï½Ã Ÿ±ê ±Ù»çÄ¡ ¹æ½ÄÀº ¿þÀÌÆÛ ³»ÀÇ ¼Ò¼öÀÇ ´ÙÀÌ ÆÐÅÏÀ» Åë°èÀûÀ¸·Î »ùÇøµÇÏ´Â ¹æ½ÄÀ¸·Î Àû¿ëµÈ´Ù.
±×·¯³ª ¹è¼±ÆøÀÇ Áö¼ÓÀûÀÎ Ãà¼Ò, ¸ÖƼ ÆÐÅÍ´×ÀÇ ±¤¹üÀ§ÇÑ Àû¿ë, 3D ¼³°è ±¸Á¶ÀÇ µµÀÔ µîÀº ·¹ÀÌ¾î °£ÀÇ ¿Ö°îÀ» ¹ß»ý½ÃÄÑ ÀüÅëÀû ÆÐÅÍ´×Àº Á¦¾î ¹æ½Ä¿¡¼´Â ÃøÁ¤ °áÇÔÀ̳ª »ç°¢Áö´ë¸¦ ÇÇÇϱ⠾î·Æ°Ô µÇ¾ú´Ù. ÀÌ¿¡ µû¶ó ¿£Áö´Ï¾îµéÀº ±âÁ¸ÀÇ ±¤ÇÐÀû ÇÁ·Ï½Ã Ÿ±ê ÆÐÅÏ °á°ú·Î ½ÇÁ¦ ÆÐÅÏ µð¹ÙÀ̽º »óÀÇ ÆÐÅÍ´× °á°ú¸¦ ¿¹ÃøÇϴµ¥ Á¡Á¡ ¾î·Á¿òÀ» °Þ°í ÀÖ´Ù.
»õ·Î¿î ÆÐÅÍ´× Á¦¾î Ç÷¹À̺Ï
Àüü ¿þÀÌÆÛ »óÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ ±¸Á¶¸¦ ·¹À̾î Åõ°ú À̹Ì¡À» È°¿ëÇØ ºü¸¥ ¼Óµµ·Î Á÷Á¢ °èÃøÇÏ´Â »õ·Î¿î ÀüÀÚºö ½Ã½ºÅÛÀÇ ÃâÇöÀ¸·Î ºòµ¥ÀÌÅÍ ±â¹ÝÀÇ »õ·Î¿î ÆÐÅÍ´× Á¦¾î Ç÷¹À̺ÏÀÌ Ã¤Åõǰí ÀÖ´Ù. ÀüÀÚºö °èÃø ºÐ¾ßÀÇ ÃÖ÷´Ü Çõ½Å ÀåºñÀÎ ¾îÇöóÀ̵åÀÇ PROVision 3E ½Ã½ºÅÛÀº »õ·Î¿î Ç÷¹À̺ÏÀ» À§ÇØ Æ¯º°È÷ ¼³°èµÆ´Ù.
Å°½º Àª½º(Keith Wells) ¾îÇöóÀÌµå ¸ÓƼ¾î¸®¾óÁî À̹Ì¡ & ÇÁ·Î¼¼½º ÄÁÆ®·Ñ ºÎ¹® ±×·ìºÎ»çÀå °â ÃÑ°ý¸Å´ÏÀú´Â “¾îÇöóÀ̵å´Â ÀüÀÚºö ±â¼ú ¼±µÎ ±â¾÷À¸·Î ÃÖ÷´Ü ·ÎÁ÷°ú ¸Þ¸ð¸® Ĩ¿¡ ÃÖÀûÈµÈ ÆÐÅÍ´× Á¦¾î¸¦ À§ÇÑ »õ·Î¿î Ç÷¹À̺ÏÀ» °í°´¿¡ Á¦½ÃÇÑ´Ù”¸ç, “PROVision 3E ½Ã½ºÅÛÀÇ ºÐÇØ´É°ú ¼Óµµ´Â ±¤ÇÐ °èÃøÀÇ »ç°¢Áö´ë¸¦ ¾ø¾Ö ¿þÀÌÆÛ Àü¹ÝÀº ¹°·Ð ĨÀÇ ¿©·¯ ·¹À̾ Åõ°úÇÏ´Â Á¤È®ÇÑ °èÃøÀ» ¼öÇàÅä·Ï ÇÑ´Ù. À̸¦ ÅëÇØ PPAC¸¦ Çâ»óÇÏ°í »õ·Î¿î °øÁ¤ ±â¼ú°ú ĨÀÇ ½ÃÀå Ãâ½Ã ¼Óµµ¸¦ °¡¼ÓÈÇÏ´Â ´ÙÂ÷¿ø µ¥ÀÌÅÍ ¼¼Æ®¸¦ ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶»ç¿¡ Á¦°øÇÑ´Ù”¶ó°í ¸»Çß´Ù.
PROVision 3E ½Ã½ºÅÛ
PROVision 3E ½Ã½ºÅÛÀº 3³ª³ë¹ÌÅÍ ÆÄ¿îµå¸® ·ÎÁ÷ Ĩ, °ÔÀÌÆ®¿Ã¾î¶ó¿îµå(GAA) Æ®·£Áö½ºÅÍ, Â÷¼¼´ë D·¥°ú 3D ³½µå µî ¿À´Ã³¯ °¡Àå Áøº¸ÇÑ ¼³°è Á¦Ç°ÀÇ ÆÐÅÍ´× Á¦¾î¸¦ °¡´ÉÄÉ ÇÑ´Ù.
¾÷°è¸¦ ¼±µµÇÏ´Â ¾îÇöóÀ̵å PROVision 3E ÀüÀÚºö Ä÷³ ±â¼úÀº ÃÖ°íÀÇ ÀüÀÚ ¹Ðµµ¸¦ Á¦°øÇϸ鼵µ 1³ª³ë¹ÌÅÍ ºÐÇØ´ÉÀ¸·Î »ó¼¼ À̹Ì¡À» ±¸ÇöÇÑ´Ù. ¼ö½Ê ³â°£ ÃàÀûµÈ CD-SEM (Critical Dimension SEM) ½Ã½ºÅÛ ±â¼ú°ú ¾Ë°í¸®Áò Àü¹®¼ºÀ» ¹ÙÅÁÀ¸·Î Á¤È®ÇÏ°í Á¤¹ÐÇÑ °èÃøÀ» Á¦°øÇÏ¸é¼ µ¿½Ã¿¡ ½Ã°£´ç 1õ¸¸°³ÀÇ °èÃø µ¥ÀÌÅ͸¦ Á¤È®ÇÏ°í Áï½Ã È°¿ë °¡´ÉÇϵµ·Ï Áö¿øÇÑ´Ù.
¾îÇöóÀ̵åÀÇ µ¶º¸ÀûÀÎ ÀÏ·ç¹Ì³×ÀÌÅÍ(Elluminator) ±â¼úÀº ´ÙÃþ ·¹À̾î·Î ÀûÃþµÈ µð¹ÙÀ̽º ÆÐÅÏ ÇϺηκÎÅÍ »ê¶õµÇ¾î ³ª¿À´Â ÀüÀÚ, Áï, BSE(Back Scattered Electrons)ÀÇ 95ÆÛ¼¾Æ®¸¦ ĸóÇØ ´ÙÃþ ·¹À̾îÀÇ CD(Critical Dimension) ¹× EPE(Edge Placement Error)¸¦ µ¿½Ã¿¡ °èÃøÇÑ´Ù. °í¿¡³ÊÁö ¸ðµå¿¡¼´Â ¼ö¹é ³ª³ë¹ÌÅÍ ±íÀÌÀÇ ºü¸¥ °èÃøÀÌ, Àú¿¡³ÊÁö ¸ðµå¿¡¼´Â EUV PR(Photo Resist) µîÀÇ ¹Î°¨ÇÑ ¼ÒÀç¿Í ±¸Á¶¿¡ ´ëÇØ ¼Õ»ó ¾ø´Â °èÃøÀÌ °¡´ÉÇÏ´Ù.
PROVision 3E ½Ã½ºÅÛÀÇ ÀÌ·¯ÇÑ Çõ½ÅÀû Ư¼º ´öºÐ¿¡ °í°´Àº ±¤ÇÐ ÇÁ·Ï½Ã Ÿ±ê ±Ù»çÄ¡ ¹æ½ÄÀÇ Á¦ÇÑµÈ Åë°è »ùÇøµ°ú ´ÜÀÏ ·¹À̾î Á¦¾î¸¦ ÅëÇÑ ±âÁ¸ ÆÐÅÍ´× Á¦¾î Ç÷¹À̺Ͽ¡¼ ¿þÀÌÆÛ ·¹º§ÀÇ ´ë±Ô¸ð ½Ç ÆÐÅÏ µð¹ÙÀ̽º(on-device & across-wafer) °èÃø ¹× ·¹À̾î Åõ°ú À̹Ì¡(through-layer) °èÃø ±â¹ÝÀÇ »õ·Î¿î Ç÷¹À̺ÏÀ¸·Î ÀüȯÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô µÇ¾ú´Ù.
ÇÁ·Î¼¼½º ·¹½ÃÇÇ ÃÖÀûÈ
PROVision 3E ½Ã½ºÅÛÀº °øÁ¤ ±â¼ú, ¼¾¼, °èÃø, µ¥ÀÌÅÍ ¾Ö³Î¸®Æ½½º¸¦ °áÇÕÇØ ¿¬±¸°³¹ßºÎÅÍ ½ÃÁ¦Ç°, ¾ç»ê¿¡ À̸£´Â °øÁ¤ ±â¼ú °³¹ßÀÇ ¸ðµç ´Ü°è¸¦ °¡¼ÓÈÇÏ´Â ¾îÇöóÀ̵å AIX (¾×¼Å³Êºí ÀλçÀÌÆ® ¾×¼¿·¯·¹ÀÌÅÍ) Ç÷§ÆûÀÇ ÁÖ¿ä ±¸¼º¿ä¼Ò±âµµ ÇÏ´Ù. AI* Ç÷§Æû ¾Ö³Î¸®Æ½½º´Â µð¹ÙÀ̽º»ó °øÁ¤ º¯¼ö¸¦ PROVision 3E°¡ ĸóÇÑ ¿þÀÌÆÛ »óÀÇ ´ë±Ô¸ð °èÃø °ª°ú ºñ±³ ºÐ¼®ÇØ ¿£Áö´Ï¾î°¡ °øÁ¤ °³¹ß ¼Óµµ¸¦ 2¹è·Î ³ôÀÌ°í °øÁ¤ À©µµ¿ì¸¦ 30ÆÛ¼¾Æ® È®´ëÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï Áö¿øÇÑ´Ù. |